DOI: https://doi.org/10.33577/2312-4458.21.2019.67-71

Аналіз застосування методу прогнозування надійності радіоелектронних засобів за рівнем тестового шуму

L. A. Korotchenko, G. D. Radzivilov, V. S. Hulii, S. M. Yakovenko

Анотація


У статті розглядаються класичні методи діагностування радіоелектронних засобів, які в поєднанні з новими дають можливість із заданою ймовірністю визначити технічний стан типових елементів зміни радіоелектронних засобів. Одним з таких методів є метод прогнозування надійності радіоелектронних засобів військового призначення за рівнем тестового шуму, який полягає в використанні двох каналів для вимірювання рівня шумів: вимірювальний канал і опорний канал з використанням алгоритму відносного прогнозування надійності. Прогнозування надійності здійснюється у три етапи, що дозволяє значно зменшити рівень систематичної похибки, виключити вплив температурних характеристик і електро­магнітних завад, що, в свою чергу, дасть змогу підвищити достовірність прогнозування надійності радіо­електронної апаратури, зменшити кількість раптових відмов блоків радіоелектронної техніки, що є особливо актуальним для частин та підрозділів, які виконують завдання в зоні проведення операції Об’єд­наних сил, оскільки непередбачуваний вихід їх з ладу може призвести до катастрофічних та навіть невиправних наслідків. Впровадження нових методів прогнозування надійності радіоелементів приведе до підвищення коефіцієнта готовності як комплексного показника надійності радіоелектронної техніки, а також дозволить заощадити значну частину коштів, які витрачаються на резервування техніки. Напрямки подальших досліджень доцільно направити на вдосконалення методу прогнозування надійності за рівнем тестового шуму.

Ключові слова


радіоелектронні засоби; методи прогнозування надійності; методи діагностування; тестовий шум; діагностична інформація

Повний текст:

PDF

Посилання


Глухов С.І. Методика діагностування та прогнозування технічного стану об’єктів РЕТ при використанні автоматизованої системи технічного діагностування / С.І. Глухов, В.П. Романенко // Cучасні інформаційні технології та кібербезпека: науково-практична конференція, 26-27 квітня 2018: тези доп. XXII Всеукр. НПК. – Житомир. – С. 195-196.

Бригадир С.П. Метод прогнозування надійності радіоелектронної апаратури військового призначення за рівнем тестового шуму / С.П. Бригадир, А.І. Міночкін, Г.Д. Радзівілов. – К.: Зб. наук. праць, ВІТІ № 4. – 2018. – 21 с.

Кичак Д.В. Метод безпосереднього прогнозування виробів електронної техніки за рівнем НЧ шуму / Д.В. Кичак, В.М. Михалевський, В.Ф. Яблонський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2008. – № 1. – С. 196–203.

Горлов М.И. Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов / М.И. Горлов, В.А. Емельянов, И.И. Рубцевич, Д.Ю. Смирнов // Микроэлектроника. – 2005. – Т. 34. – № 3. – С. 27–36.

Горлов М.И. Использование уровня шумов для контроля полупроводниковых изделий при термоциклировании / М.И. Горлов, Д.Ю. Смирнов, Ю.Е. Сегал, А.В. Емельянов // Известия вузов. Электроника. – 2005. – № 6. – С. 89–92.

Kester W., Bryant J. Programmable Gain Amplifiers. Op Amp Applications. 2002. ISBN 0-916550-26-5.

Красносельский М.А. Системы с гистерезисом / М.А. Красносельский, А.В. Покровский. – М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы. – 1983. – 272 с.

Омельченко В.О. Теорія електричного зв’язку. Ч. 1/ В.О. Омельченко, В.Г. Санніков. – К.: ІСДО, 1994. – 304 с.

Пряников В.С. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов / В.С. Пряников. – М.: Энергия, 1978. – 112 c.

Кичак В.М. Оцінка якості інтегральних транзисторів за допомогою низькочастотних шумів / В.М. Кичак, Д.В. Михалевський, В.В. Стронський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах, Хм. – 2005. – № 2. – С. 177-178.

Горлов М.И. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума / М.И. Горлов, А.В. Емельянов, Д.В. Смирнов. – М.: Компоненты и технологии. – 2005. – № 8. – С. 198–202.

Горлов М.И. Обеспечение и повышение надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем в процессе серийного производства / М.И. Горлов, Л.П. Ануфриев, О.Л. Бордюжа. – М.: Интеграл. – 2005. – С. 18–22.




Copyright (c) 2019 L. A. Korotchenko, G. D. Radzivilov, V. S. Hulii, S. M. Yakovenko

ISSN: 2312-4458 © Національна академія сухопутних військ імені гетьмана Петра Сагайдачного, 2009-2019.