Аналіз застосування методу прогнозування надійності радіоелектронних засобів за рівнем тестового шуму

Автор(и)

  • L. A. Korotchenko Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут, Київ, ад’юнкт НОВ, Україна
  • G. D. Radzivilov Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут, Київ, кандидат технічних наук, доцент, начальник кафедри, Україна
  • V. S. Hulii Військовий інститут телекомунікацій та інформатизації імені Героїв Крут, Київ, заступник начальника кафедри, Україна
  • S. M. Yakovenko Військова частина А0415, с. Семиполки, Київська область, командир батальйону, Україна

DOI:

https://doi.org/10.33577/2312-4458.21.2019.67-71

Ключові слова:

радіоелектронні засоби, методи прогнозування надійності, методи діагностування, тестовий шум, діагностична інформація

Анотація

У статті розглядаються класичні методи діагностування радіоелектронних засобів, які в поєднанні з новими дають можливість із заданою ймовірністю визначити технічний стан типових елементів зміни радіоелектронних засобів. Одним з таких методів є метод прогнозування надійності радіоелектронних засобів військового призначення за рівнем тестового шуму, який полягає в використанні двох каналів для вимірювання рівня шумів: вимірювальний канал і опорний канал з використанням алгоритму відносного прогнозування надійності. Прогнозування надійності здійснюється у три етапи, що дозволяє значно зменшити рівень систематичної похибки, виключити вплив температурних характеристик і електро­магнітних завад, що, в свою чергу, дасть змогу підвищити достовірність прогнозування надійності радіо­електронної апаратури, зменшити кількість раптових відмов блоків радіоелектронної техніки, що є особливо актуальним для частин та підрозділів, які виконують завдання в зоні проведення операції Об’єд­наних сил, оскільки непередбачуваний вихід їх з ладу може призвести до катастрофічних та навіть невиправних наслідків. Впровадження нових методів прогнозування надійності радіоелементів приведе до підвищення коефіцієнта готовності як комплексного показника надійності радіоелектронної техніки, а також дозволить заощадити значну частину коштів, які витрачаються на резервування техніки. Напрямки подальших досліджень доцільно направити на вдосконалення методу прогнозування надійності за рівнем тестового шуму.

Посилання

Глухов С.І. Методика діагностування та прогнозування технічного стану об’єктів РЕТ при використанні автоматизованої системи технічного діагностування / С.І. Глухов, В.П. Романенко // Cучасні інформаційні технології та кібербезпека: науково-практична конференція, 26-27 квітня 2018: тези доп. XXII Всеукр. НПК. – Житомир. – С. 195-196.

Бригадир С.П. Метод прогнозування надійності радіоелектронної апаратури військового призначення за рівнем тестового шуму / С.П. Бригадир, А.І. Міночкін, Г.Д. Радзівілов. – К.: Зб. наук. праць, ВІТІ № 4. – 2018. – 21 с.

Кичак Д.В. Метод безпосереднього прогнозування виробів електронної техніки за рівнем НЧ шуму / Д.В. Кичак, В.М. Михалевський, В.Ф. Яблонський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2008. – № 1. – С. 196–203.

Горлов М.И. Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов / М.И. Горлов, В.А. Емельянов, И.И. Рубцевич, Д.Ю. Смирнов // Микроэлектроника. – 2005. – Т. 34. – № 3. – С. 27–36.

Горлов М.И. Использование уровня шумов для контроля полупроводниковых изделий при термоциклировании / М.И. Горлов, Д.Ю. Смирнов, Ю.Е. Сегал, А.В. Емельянов // Известия вузов. Электроника. – 2005. – № 6. – С. 89–92.

Kester W., Bryant J. Programmable Gain Amplifiers. Op Amp Applications. 2002. ISBN 0-916550-26-5.

Красносельский М.А. Системы с гистерезисом / М.А. Красносельский, А.В. Покровский. – М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы. – 1983. – 272 с.

Омельченко В.О. Теорія електричного зв’язку. Ч. 1/ В.О. Омельченко, В.Г. Санніков. – К.: ІСДО, 1994. – 304 с.

Пряников В.С. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов / В.С. Пряников. – М.: Энергия, 1978. – 112 c.

Кичак В.М. Оцінка якості інтегральних транзисторів за допомогою низькочастотних шумів / В.М. Кичак, Д.В. Михалевський, В.В. Стронський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах, Хм. – 2005. – № 2. – С. 177-178.

Горлов М.И. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума / М.И. Горлов, А.В. Емельянов, Д.В. Смирнов. – М.: Компоненты и технологии. – 2005. – № 8. – С. 198–202.

Горлов М.И. Обеспечение и повышение надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем в процессе серийного производства / М.И. Горлов, Л.П. Ануфриев, О.Л. Бордюжа. – М.: Интеграл. – 2005. – С. 18–22.

##submission.downloads##

Опубліковано

2019-11-04

Як цитувати

Korotchenko, L. A., Radzivilov, G. D., Hulii, V. S., & Yakovenko, S. M. (2019). Аналіз застосування методу прогнозування надійності радіоелектронних засобів за рівнем тестового шуму. Військово-технічний збірник, (21), 67–71. https://doi.org/10.33577/2312-4458.21.2019.67-71

Номер

Розділ

ЕКСПЛУАТАЦІЯ ТА ВІДНОВЛЕННЯ ОВТ